X 射線熒光光譜 (XRF) 能夠對多種材料進行元素分析，包括固體、液體和疏松粉末。 Zetium 光譜儀專為滿足要求最嚴苛的流程控制和研發應用需求而設計，其高品質的設計和創新功能居于市場領先地位，可對從鈹到镅等多種元素進行精度范圍從百萬分之一以下到百分之一的分析。

憑借我們多年的豐富經驗以及利用具有廣泛分析功能的 X 射線產品組合取得的成功，Zetium 推動材料分析的發展邁出了革命性的一步。 該平臺包含了 SumXcore 技術，它是 WDXRF、EDXRF 和 XRD 的集成。 這種獨特的功能組合使 Zetium 在多種環境下擁有獨一無二的分析能力、速度和任務靈活性。